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变频抗干扰介质损耗测试仪

产品名称: 变频抗干扰介质损耗测试仪
产品型号: XED4900E
产品展商: 扬州欣恩达
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简单介绍

XED4900E变频抗干扰介质损耗测试仪采用变频抗干扰技术,在200%干扰下仍能准确测量,测试数据稳定,适合在现场做抗干扰介损试验。


变频抗干扰介质损耗测试仪  的详细介绍

  XED4900E变频抗干扰介质损耗测试仪简介:

  1.本仪器用于现场抗干扰介损测量,或试验室精密介损测量。

  2.仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。

  3.采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,强干扰下测量数据非常稳定。

  4.测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。
 

  二,XED4900E变频抗干扰介质损耗测试仪主要技术指标

         
 准确度:
Cx:±(读数×1%+1pF)

tgδ:±(读数×1%+0.00040)

抗干扰指标:
变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度

电容量范围:
内施高压:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV

外施高压:3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率:最高0.001pF,4位有效数字
 t gδ范围:不限,分辨率0.001%,

电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围:10μA~5A

内施高压:
设定电压范围:0.5~10kV

最大输出电流:200mA
 升降压方式:连续平滑调节
电压精度:±(1.5%×读数+10V)
 电压分辨率:1V
试验频率:45、50、55单频
频率精度:±0.01Hz

外施高压:
正接线时最大试验电流1A,工频或变频40-70Hz

反接线时最大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz

CVT自激法低压输出:
输出电压3~50V,输出电流3~30A

测量时间:约40s,与测量方式有关
输入电源:180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电
计算机接口:标准RS232接口
打印机: 炜煌A7热敏微型打印机
 环境温度:-10℃~50℃
相对湿度:<90%

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