XED2900变压器变形绕组测试仪和传统的测量技术相比，仪器电源部分与测量部分采用一体化设计，操作简单、接线方便、数据准确可靠，可直接显示您需要的所有测量数据，无需再进行手工换算，使您在变压器绕组变形测量中节约时间，提高工作效率，减轻劳动强度。变压器绕组变形试验通过对检测变压器各个绕组的负载阻抗及空载损耗特性，对检测结果进行纵向和横向比较，根据阻抗及损耗特性的变化程度判断变压器可能发生的绕组变形。
二，产品功能
XED2900变压器变形绕组测试仪根据对变压器内部绕组特征参数的测量，采用目前世界发达国家正在开发完善的内部故障频率响应分析FRA方法，能对变压器内部故障作出准确判断。变压器设计制造完成后，其线圈和内部结构就确定下来，因此对一台多绕组的变压器线圈而言，如果电压等级相同、绕制方法相同，则每个线圈对应参数Ci、Li就应该是确定的。因此每个线圈的频域特征响应也随之确定，对应的三相线圈之间其频率图谱具有一定可比性。变压器在试验过程中发生匝间、相间短路，或在运输过程中发生冲撞，造成线圈相对位移，以及运行过程中在短路和故障状态下因电磁拉力造成线圈变形，就会使变压器绕组的分布参数发生变化。进而影响并改变变压器原有的频域特征，即频率响应发生幅度变化和谐振频点偏移等。并根据响应分析方法研制开发的变压器绕组频率响应测试仪，就是这样一种新颖的变压器内部故障无损检测设备。它适用于63kV～500kV电力变压器的内部结构故障检测。
XED2900变压器变形绕组测试仪是将变压器内部绕组参数在不同频域的响应变化经量化处理后，根据其变化量值的大小、频响变化的幅度、区域和频响变化的趋势，来确定变压器内部绕组的变化程度，进而可以根据测量结果判断变压器是否已经受到严重破坏、是否需要进行大修。对于运行中的变压器而言，无论过去是否保存有频域特征图，通过比较故障变压器线圈间特征图谱的差异，也可以对故障程度进行判断。当然，如果保存有一套变压器原有的绕组特征图，更易对变压器的运行状况、事故后分析和维护检修提供更为**有力的依据。
XED2900变压器变形绕组测试仪由笔记本电脑及单片机构成高精度测量系统,结构紧凑，操作简单，具有较完备的测试分析功能，对照使用说明书或经过短期培训即可自行操作使用。
三，XED2900变压器变形绕组测试仪技术指标：
频率范围：10Hz~2000kHz （可以设置，默认1 kHz~1000kHz） 信号输出：输出波形：正弦波 频率精度：优于0.002% 扫频方式：线性/对数扫频 输出阻抗：50欧 输出幅值：1Vpp~10Vpp 连接方式：自锁BNC 柔性同轴电缆输出 信号输入：输入阻抗：>1MΩ 动态范围：-100db ~ +20db 增益误差：<0.5db@-80db 选频带宽：优于1%中心频率 信号采集： 采集方式： 双通道同步采集 数据位数：14 位 采集速率：*大64MHz，可自动调整 采集深度：双路64K 字 PC 环境：接口方式：USB1.1 连接 操作系统：WindowXP 处理器：主频>500M 或更高 内存：*小256M 硬盘：*小80M 尺寸重量：L(mm)xW(mm)xH(mm) ：220x160x60（测量单元） 重量：<3kg 工作环境：温度：-10℃ ~ 40℃ 湿度：10% ~ 90%不结露 电源：AC220V ±22V，50/60Hz±1Hz